技術(shù)文06——為高精端儀器創(chuàng)造“干凈”的環(huán)境
電子顯微鏡（SEM/TEM）能讓我們看到一個肉眼無法觀察到的世界。但是由于震動、磁場等干擾因素的存在，嚴(yán)重影響了電子束對樣品的相對位置，導(dǎo)致電鏡成像圖出現(xiàn)“毛刺”現(xiàn)象，變得模糊不清。電子顯微鏡價(jià)格往往不菲，因?yàn)檫@些干擾因素導(dǎo)致成像質(zhì)量差會降低電鏡的實(shí)際性能。因此，如何消除這些干擾因素，獲得高品質(zhì)的電鏡圖，是我們的目標(biāo)！
理化（香港）有限公司目前推出電鏡周邊產(chǎn)品分為兩類。
第一類是環(huán)境模擬測量：
SC11專門用于對高精端儀器進(jìn)行環(huán)境（磁場、振動、噪聲）現(xiàn)場檢測。該系統(tǒng)測試準(zhǔn)確度高，以圖形形式顯示結(jié)果。由1-2名專業(yè)工程師在準(zhǔn)備安裝或者已經(jīng)安裝了高精端儀器的現(xiàn)場進(jìn)行測量，從而判斷場地是否滿足儀器的使用要求。
第二類是環(huán)境改善：
1． 主動消磁：SC22、SC24、SC26配合適用于高精端儀器現(xiàn)場的布線方式，安裝后可以解決由磁場干擾而帶來的成像問題。這類方案較傳統(tǒng)的屏蔽房而言，對低頻磁場的干擾更具有優(yōu)勢。
2、主動減震：AVI系列減震器通過消除因環(huán)境而產(chǎn)生的低頻振動，讓用戶獲得清晰的圖像。該方案在0-5 Hz之間比被動無源減震方式具有更好的性能。
